динамический механический анализ дма

Пример: Структура высоколегированной нержавеющей стали в субмикронном состоянии.

Разрешение энергодисперсионного спектрометра

20-200 нм в режиме TEM,

Сферическая - 1 мм, хроматическая - 1,4 мм

TEM, STEM , светлое, темное поле, микродифракция

Угол наклона дифракционной картины, град.

Угол наклона гониометра, град.

по точкам 0,23нм по линиям 0,14нм

200кВ с шагом 20кВ, стабильность 2*10-6 1/мин

Максимальное ускоряющее напряжение

Назначение: Просвечивающий электронный микроскоп JEM 2100 с приставкой для микроанализа Oxford Inca применим для проведения электронно-микроскопических исследований по изучению тонкой структуры материалов, включаяP дислокационную, зеренную, субзеренную; фазового состава, химического состава отдельных фаз и их кристаллографической ориентации друг относительно друга;P изучение морфологических особенностей выделений вторых фаз, вплоть до наноразмерного уровня.

Просвечивающий электронный микроскоп JEM 2100 с приставкой для микроанализа Oxford Inca.

Приборы структурного анализа

Лаборатория ЦКП УрФУ

УГТУ-УПИ, Металлургический факультет,

620002, г. Екатеринбург, ул. Мира, 28

Лаборатория структурных методов анализа и свойств материалов и наноматериалов

    |      

    |     |

Лаботатория СМАиСМН::О компании